AES分析去哪里做?俄歇電子能譜法是用具有一定能量的電子束(或X射線)激發(fā)樣品俄歇效應(yīng)，通過檢測俄歇電子的能量和強(qiáng)度，從而獲得有關(guān)材料表面化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)的信息的方法。利用受激原子俄歇躍遷退激過程發(fā)射的俄歇電子對試樣微區(qū)的表面成分進(jìn)行的定性定量分析。
檢測范圍
固體表面的能帶結(jié)構(gòu)、表面物理化學(xué)性質(zhì)的變化(如表面吸附、脫附以及表面化學(xué)反應(yīng));用于材料組分的確定、純度的檢測、材料尤其是薄膜材料的生長等。
檢測標(biāo)準(zhǔn)
4GB/T 25934.3-2010高純金化學(xué)分析方法 第3部分：乙醚萃取分離ICP-AES法 測定雜質(zhì)元素的含量
5GB/T 27598-2011照相化學(xué)品 無機(jī)物中微量元素的分析 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜(ICP-AES)法
6GB/T 32179-2015耐火材料化學(xué)分析 濕法、原子吸收光譜法(AAS)和電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法(ICP-AES)的一般要求
7GB/T 32565-2016表面化學(xué)分析俄歇電子能譜(AES)數(shù)據(jù)記錄與報(bào)告的規(guī)范要求
8GB/T 34326-2017表面化學(xué)分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析時(shí)離子束對準(zhǔn)方法及其束流或束流密度測量方法
9GB/T 34333-2017耐火材料 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜(ICP-AES)分析方法
為什么選擇中科光析科學(xué)技術(shù)研究所AES分析?
1、中析研究所AES分析中心資質(zhì)齊全，資質(zhì)認(rèn)證的第三方檢測機(jī)構(gòu)。
2、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確，博士團(tuán)隊(duì)，歐美進(jìn)口檢測設(shè)備，保證了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
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6，可出具中英文檢測報(bào)告，及msds報(bào)告編寫服務(wù)。
AES分析流程
1、前期咨詢
2、郵寄AES分析樣品或上門取樣。
3、工程師報(bào)價(jià)
4、支付檢測費(fèi)用，開展實(shí)驗(yàn)。
5、完成實(shí)驗(yàn)，出具檢測報(bào)告。
6、郵寄檢測報(bào)告，售后服務(wù)。
CMA認(rèn)證
檢驗(yàn)檢測機(jī)構(gòu)資質(zhì)認(rèn)定證書
證書編號：241520345370
有效期至：2030年4月15日
CNAS認(rèn)可
實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可證書
證書編號：CNAS L22006
有效期至：2030年12月1日
ISO認(rèn)證
質(zhì)量管理體系認(rèn)證證書
證書編號：ISO9001-2024001
有效期至：2027年12月31日
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