物鏡球差透射(AC-TEM)
1對1客服專屬服務,免費制定檢測方案,15分鐘極速響應
發(fā)布時間:2024-05-21 08:15:32 更新時間:2025-02-18 14:33:45
點擊:482

1對1客服專屬服務,免費制定檢測方案,15分鐘極速響應
發(fā)布時間:2024-05-21 08:15:32 更新時間:2025-02-18 14:33:45
點擊:482
物鏡球差透射檢測去哪里做?中析研究所檢測中心可對各類物鏡球差透射檢測,出具第三方物鏡球差透射報告。
TEM模式下能夠對材料結構進行亞埃尺度(<0.1nm)的表征和分析,表征原子結構像;
利用電子全息技術,可以獲取所需樣品的振幅和相位信息,是研究材料內(nèi)勢場和磁場分布的有效和高空間分辨的手段,在半導體材料研究中的作用尤為突出;
可對材料進行原子尺度、微納米尺度的形貌和成分的三維重構;
可對樣品進行DPC分析;
可對材料進行常規(guī)的形貌、成分、衍射分析,適用于晶體材料中應力、應變以及缺陷等的研究。
配備物鏡球差校正器和單色器;
配備多檔加速電壓:300kV、200kV、80kV、30kV;
透射電子顯微(TEM)模式的點分辨率:0.07nm (300kV),0.08nm (200kV),0.1nm (80kV),0.15nm (30kV);
掃描透射電子顯微(STEM)模式的點分辨率:不大于0.136nm (300kV);
配備電子全息技術;
配備超級能譜系統(tǒng),能譜分辨率小于136 eV;
極靴間距5mm;
具備分割式STEM探頭。
1、填寫申請表:聯(lián)系中析研究所工作人員確認檢測標準,簽訂委托書;
2、安排寄樣:將樣品快遞或直接送至我司實驗室 ;
3、產(chǎn)品檢測:實驗室安排測試,出草稿報告;
4、確認草稿報告,發(fā)正式報告。
A、中析研究所擁有較全面的儀器設備,及多余年經(jīng)驗的工程師團隊。
B、提供顧問式服務,行業(yè)廣,針對客戶需求制定對應解決方案。
C、各領域一站式技術服務,六大檢測實驗室,全程專人對接,客戶可實時了解報告進度
證書編號:241520345370
證書編號:CNAS L22006
證書編號:ISO9001-2024001
版權所有:北京中科光析科學技術研究所京ICP備15067471號-33免責聲明