ASPex夾雜物分析

ASPex（Automated Scanning Probe Exfoliation）是一種先進的掃描探針剝離技術(shù)，用于研究二維材料。夾雜物分析是在使用ASPex技術(shù)剝離和制備二維材料樣品后，對其中存在的夾雜物進行分析和表征的過程。

夾雜物是指在二維材料中被意外或有意添加的其他物質(zhì)，可能對材料的性能和特性產(chǎn)生影響。通過ASPex夾雜物分析，我們可以了解并識別這些夾雜物，并評估其對二維材料的影響。以下是一些常見的ASPex夾雜物分析方法：

1. 光學(xué)顯微鏡分析：使用光學(xué)顯微鏡觀察樣品表面，識別并確定夾雜物的位置和形貌。這可以提供關(guān)于夾雜物大小、形狀和分布的信息。

2. 掃描電子顯微鏡（SEM）分析：通過SEM觀察樣品表面的高分辨率圖像，以獲取更詳細的夾雜物形貌和結(jié)構(gòu)信息。SEM還可以提供有關(guān)夾雜物元素組成的能譜分析結(jié)果。

3. X射線衍射（XRD）分析：通過XRD技術(shù)對樣品進行分析，可以確定夾雜物的晶體結(jié)構(gòu)和晶格參數(shù)。這有助于了解夾雜物的化學(xué)組成和相互作用。

4. 原子力顯微鏡（AFM）分析：使用AFM技術(shù)觀察樣品表面的原子級拓撲圖像，可以提供夾雜物的高分辨率形貌信息。此外，AFM還可以測量夾雜物的高度、表面粗糙度等參數(shù)。

5. 能譜分析：使用能譜儀（如X射線能譜儀或電子能譜儀）對夾雜物進行表征，以確定其元素組成和化學(xué)狀態(tài)。這可以幫助我們了解夾雜物的化學(xué)特性和起源。

ASPex夾雜物分析的目標(biāo)是準(zhǔn)確識別夾雜物并理解其對二維材料性能的影響。這些分析技術(shù)的綜合應(yīng)用可以提供全面的夾雜物特征，并為進一步的研究和應(yīng)用提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù)。

檢測機構(gòu)資質(zhì)證書

CMA認證

檢驗檢測機構(gòu)資質(zhì)認定證書

證書編號：241520345370

有效期至：2030年4月15日

CNAS認可

實驗室認可證書

證書編號：CNAS L22006

有效期至：2030年12月1日

ISO認證

質(zhì)量管理體系認證證書

證書編號：ISO9001-2024001

有效期至：2027年12月31日

關(guān)于我們

部分儀器

合作客戶